logo
Goede prijs  online

details van de producten

Created with Pixso. Huis Created with Pixso. Producten Created with Pixso.
Het Wafeltje van het siliciumcarbide
Created with Pixso.

6-inch Silicon Carbide (SiC) wafer voor AR-brillen MOS SBD

6-inch Silicon Carbide (SiC) wafer voor AR-brillen MOS SBD

Merknaam: ZMSH
MOQ: 1
Prijs: by case
Verpakking: Aangepaste dozen
Betalingsvoorwaarden: T/t
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst:
CHINA
Diameter:
149,5 mm - 150,0 mm
Poly-type:
4h
Dikte:
350 µm ± 15 µm
Micropipedichtheid:
≤ 0,2 cm²
Weerstand:
0,015 - 0,024 Ω·cm
Primaire Vlakke Lengte:
475 mm ± 2,0 mm
Levering vermogen:
Bij het geval
Markeren:

6-inch silicon carbide wafer

,

SiC wafer for AR glasses

,

MOS SBD silicon carbide wafer

Productbeschrijving

Productoverzicht

De 6-inch siliciumcarbide (SiC) wafer is een volgende generatie halfgeleidersubstraat ontworpen voor elektronische toepassingen met hoog vermogen, hoge temperatuur en hoge frequentie. Met superieure thermische geleidbaarheid, een brede bandgap en chemische stabiliteit maken SiC-wafers de fabricage mogelijk van geavanceerde vermogensapparaten die een hogere efficiëntie, grotere betrouwbaarheid en kleinere afmetingen leveren in vergelijking met traditionele op silicium gebaseerde technologieën.

 

SiC's brede bandgap (~3,26 eV) maakt het mogelijk dat elektronische apparaten werken bij spanningen van meer dan 1.200 V, temperaturen boven 200°C en schakelfrequenties die meerdere keren hoger zijn dan die van silicium. Het 6-inch formaat biedt een evenwichtige combinatie van productie schaalbaarheid en kosteneffectiviteit, waardoor het de mainstream maat is voor industriële massaproductie van SiC MOSFET's, Schottky-diodes en epitaxiale wafers.

6-inch Silicon Carbide (SiC) wafer voor AR-brillen MOS SBD 0       6-inch Silicon Carbide (SiC) wafer voor AR-brillen MOS SBD 1


Productieprincipe

6-inch Silicon Carbide (SiC) wafer voor AR-brillen MOS SBD 2De 6-inch SiC-wafer wordt gekweekt met behulp van Physical Vapor Transport (PVT) of Sublimatie Groei Technologie. In dit proces wordt hoogzuiver SiC-poeder gesublimeerd bij temperaturen van meer dan 2.000°C en herkristalliseerd op een zaadkristal onder nauwkeurig gecontroleerde thermische gradiënten. De resulterende enkelkristallijne SiC-boule wordt vervolgens gesneden, gelapt, gepolijst en gereinigd om wafer-grade vlakheid en oppervlaktekwaliteit te bereiken.

 

Voor de fabricage van apparaten worden epitaxiale lagen op het waferoppervlak afgezet via Chemical Vapor Deposition (CVD), waardoor een nauwkeurige controle over de dopingconcentratie en laagdikte mogelijk is. Dit zorgt voor uniforme elektrische prestaties en minimale kristaldefecten over het gehele waferoppervlak.


Belangrijkste kenmerken en voordelen

  • Brede bandgap (3,26 eV): Maakt werking met hoge spanning en superieure vermogensefficiëntie mogelijk.

  • Hoge thermische geleidbaarheid (4,9 W/cm·K): Zorgt voor efficiënte warmteafvoer voor apparaten met hoog vermogen.

  • Hoge elektrische veldsterkte (3 MV/cm): Maakt dunnere apparaatstructuren met lagere lekstroom mogelijk.

  • Hoge elektronenverzadigingssnelheid: Ondersteunt schakelen met hoge frequentie en snellere reactietijden.

  • Uitstekende chemische en stralingsbestendigheid: Ideaal voor zware omgevingen zoals ruimtevaart en energiesystemen.

  • Grotere diameter (6-inch): Verbetert de waferopbrengst en verlaagt de kosten per apparaat in massaproductie.


Toepassingen

  • SiC in AR-brillen:
    SiC-materialen verbeteren de vermogensefficiëntie, verminderen de warmteontwikkeling en maken dunnere, lichtere AR-systemen mogelijk door hoge thermische geleidbaarheid en brede bandgap-eigenschappen.

  •  

  • SiC in MOSFET's:
    SiC MOSFET's bieden snel schakelen, hoge doorslagspanning en weinig verlies, waardoor ze ideaal zijn voor microdisplay-drivers en laserprojectie-stroomcircuits.

  •  

  • SiC in SBD's:
    SiC Schottky-barrièrediodes bieden ultrasnelle rectificatie en weinig terugstroomverlies, waardoor de efficiëntie van opladen en DC/DC-omzetters in AR-brillen wordt verbeterd.

6-inch Silicon Carbide (SiC) wafer voor AR-brillen MOS SBD 3

  •  

Technische specificaties (aanpasbaar)

 

Specificatie van 6-inch 4H-N type SiC-wafer

Eigenschap Zero MPD Productiekwaliteit (Z-kwaliteit) Dummy-kwaliteit (D-kwaliteit)
Kwaliteit Zero MPD Productiekwaliteit (Z-kwaliteit) Dummy-kwaliteit (D-kwaliteit)
Diameter 149,5 mm - 150,0 mm 149,5 mm - 150,0 mm
Polytype 4H 4H
Dikte 350 µm ± 15 µm 350 µm ± 25 µm
Waferoriëntatie Off-axis: 4,0° naar <1120> ± 0,5° Off-axis: 4,0° naar <1120> ± 0,5°
Micropipe-dichtheid ≤ 0,2 cm² ≤ 15 cm²
Weerstand 0,015 - 0,024 Ω·cm 0,015 - 0,028 Ω·cm
Primaire vlakoriëntatie [10-10] ± 50° [10-10] ± 50°
Primaire vlaklengte 475 mm ± 2,0 mm 475 mm ± 2,0 mm
Randuitsluiting 3 mm 3 mm
LTV/TIV / Bow / Warp ≤ 2,5 µm / ≤ 6 µm / ≤ 25 µm / ≤ 35 µm ≤ 5 µm / ≤ 15 µm / ≤ 40 µm / ≤ 60 µm
Ruwheid Polish Ra ≤ 1 nm Polish Ra ≤ 1 nm
CMP Ra ≤ 0,2 nm ≤ 0,5 nm
Randkloven door licht met hoge intensiteit Cumulatieve lengte ≤ 20 mm enkele lengte ≤ 2 mm Cumulatieve lengte ≤ 20 mm enkele lengte ≤ 2 mm
Zeshoekige platen door licht met hoge intensiteit Cumulatieve oppervlakte ≤ 0,05% Cumulatieve oppervlakte ≤ 0,1%
Polytype-gebieden door licht met hoge intensiteit Cumulatieve oppervlakte ≤ 0,05% Cumulatieve oppervlakte ≤ 3%
Visuele koolstofinsluitsels Cumulatieve oppervlakte ≤ 0,05% Cumulatieve oppervlakte ≤ 5%
Siliciumoppervlaktekrassen door licht met hoge intensiteit   Cumulatieve lengte ≤ 1 waferdiameter
Randchips door licht met hoge intensiteit Niet toegestaan ≥ 0,2 mm breedte en diepte 7 toegestaan, ≤ 1 mm elk
Draadschroefdislocatie < 500 cm³ < 500 cm³
Siliciumoppervlakteverontreiniging door licht met hoge intensiteit    
Verpakking Multi-wafer cassette of enkele wafer container Multi-wafer cassette of enkele wafer container

Waarom kiezen voor onze SiC-wafers

  • Hoge opbrengst en lage defectdichtheid: Geavanceerd kristalgroeiproces zorgt voor minimale micropipes en dislocaties.

  • Stabiele epitaxiecapaciteit: Compatibel met meerdere epitaxiale en apparaatfabricageprocessen.

  • Aanpasbare specificaties: Verkrijgbaar in verschillende oriëntaties, dopingniveaus en diktes.

  • Strikte kwaliteitscontrole: Volledige inspectie via XRD, AFM en PL-mapping om uniformiteit te garanderen.

  • Wereldwijde supply chain-ondersteuning: Betrouwbare productiecapaciteit voor zowel prototype- als volume-orders.


FAQ

V1: Wat is het verschil tussen 4H-SiC en 6H-SiC wafers?
A1: 4H-SiC biedt een hogere elektronenmobiliteit en heeft de voorkeur voor apparaten met hoog vermogen en hoge frequentie, terwijl 6H-SiC geschikt is voor toepassingen die een hogere doorslagspanning en lagere kosten vereisen.

 

V2: Kan de wafer worden geleverd met een epitaxiale laag?
A2: Ja. Epitaxiale SiC-wafers (epi-wafers) zijn verkrijgbaar met aangepaste dikte, dopingtype en uniformiteit volgens de apparaatvereisten.

 

V3: Hoe verhoudt SiC zich tot GaN- en Si-materialen?
A3: SiC ondersteunt hogere spanningen en temperaturen dan GaN of Si, waardoor het ideaal is voor systemen met hoog vermogen. GaN is beter geschikt voor toepassingen met hoge frequentie en lage spanning.

 

V4: Welke oppervlakteoriëntaties worden vaak gebruikt?
A4: De meest voorkomende oriëntaties zijn (0001) voor verticale apparaten en (11-20) of (1-100) voor laterale apparaatstructuren.

 

V5: Wat is de typische doorlooptijd voor 6-inch SiC-wafers?
A5: De standaard doorlooptijd is ongeveer 4–6 weken, afhankelijk van de specificaties en de ordergrootte.