• 6inch 150mm SIC Wafeltje 4 het Substraat Proefproductie van H-N Type sic en Nul Rang
  • 6inch 150mm SIC Wafeltje 4 het Substraat Proefproductie van H-N Type sic en Nul Rang
  • 6inch 150mm SIC Wafeltje 4 het Substraat Proefproductie van H-N Type sic en Nul Rang
6inch 150mm SIC Wafeltje 4 het Substraat Proefproductie van H-N Type sic en Nul Rang

6inch 150mm SIC Wafeltje 4 het Substraat Proefproductie van H-N Type sic en Nul Rang

Productdetails:

Plaats van herkomst: China
Merknaam: ZMKJ
Certificering: ROHS
Modelnummer: het Substraat van 6inch 150mm sic

Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:

Min. bestelaantal: 2pcs
Prijs: by case
Verpakking Details: het enige wafeltjepakket in 100 sorteert schoonmakende ruimte
Levertijd: 1-6weeks
Betalingscondities: T/T, Western Union, MoneyGram
Levering vermogen: 1-500pcs/month
Beste prijs Contact

Gedetailleerde informatie

Materiaal: Sic enig kristal 4h-n 4H-Si Rang: Productiedummy en Zero MPD
Thicnkss: 0,35 mm en 0,5 mm LTV/TTV/Bow Afwijking: ≤5 um/≤15 u/$40 um/≤60 um
Toepassing: Voor MOS en Halfgeleider Diameter: 6inch 150mm
Kleur: Groene Thee MPD: <2cm-2 voor Zero MPD-productiekwaliteit
Hoog licht:

150mm SIC Wafeltje

,

4 het Substraat van H-N Type sic

,

Nul het Carbidewafeltje van het Rangsilicium

Productomschrijving

De Substraten 4H van het siliciumcarbide (sic) en het Substraat van 6H het epi-Klaar sic/van het Wafeltjes (150mm, 200mm) Type Silicium van Carbide (sic) wafeltje N
6inch SIC Wafeltje 4 H-N Type-laag van de wafeltjesgan van de productierang de sic epitaxial op sic
 
Het Kristal ongeveer van het Siliciumcarbide (sic)
  

Biedt Beroemd de Handelsco. van Shanghai, Ltd 150 wafeltjes van mm apparatenfabrikanten sic een verenigbaar, hoogstaand substraat voor het ontwikkelen van krachtige machtsapparaten aan. Onze sic substraten worden geproduceerd uit kristalbaren van de hoogste kwaliteit gebruikend de merkgebonden van de het vervoer (PVT) groei van de overzichts fysieke technieken damp en productie met computer (CAM). De geavanceerde wafeltje productietechnieken worden gebruikt om baren in wafeltjes om te zetten om de verenigbare, betrouwbare kwaliteit te verzekeren u wenst.

Zeer belangrijke eigenschappen

  • Optimaliseert gerichte prestaties en totale kosten van eigendom voor de elektronikaapparaten van de volgende-generatiemacht
  • Grote diameterwafeltjes voor betere schaaleconomieën in halfgeleider productie
  • Waaier van tolerantieniveaus om aan de specifieke behoeften van de apparatenvervaardiging te voldoen
  • Hoge kristalkwaliteit
  • Lage tekortdichtheid

Gerangschikt voor betere productie

Met 6inch het wafeltjegrootte van 150 mm sic, bieden wij fabrikanten de capaciteit aan hefboomwerking betere die schaaleconomieën aan met 100 van de apparaten worden vergeleken mm vervaardiging. Onze 6inch 150 Wafeltjes van mm bieden sic constant uitstekende mechanische kenmerken aan om verenigbaarheid te verzekeren met het bestaan en het ontwikkelen van de processen van de apparatenvervaardiging.

het n-Type van 6inch 200mm sic Substratenspecificaties
BezitP-MOS RangP-SBD RangD Rang 
Crystal Specifications 
Crystal Form4H 
PolytypegebiedToegelaten nietsArea≤5% 
(MPD) a≤0.2 /cm2≤0.5 /cm2≤5 /cm2 
HexuitdraaiplatenToegelaten nietsArea≤5% 
Hexagonale PolycrystalToegelaten niets 
Opneming aArea≤0.05%Area≤0.05%N/A 
Weerstandsvermogen0.015Ω•cm-0.025Ω•cm0.015Ω•cm-0.025Ω•cm0.014Ω•cm-0.028Ω•cm 
(EPD) a≤4000/cm2≤8000/cm2N/A 
(TED) a≤3000/cm2≤6000/cm2N/A 
(BPD) a≤1000/cm2≤2000/cm2N/A 
(TSD) a≤600/cm2≤1000/cm2N/A 
(Stapelend Fout)≤0.5% Gebied≤1% GebiedN/A 
De Verontreiniging van het oppervlaktemetaal(Al, Cr, Fe, Ni, Cu, Zn, Pb, Na, K, Ti, Ca, V, Mn) cm2 ≤1E11 
Mechanische Specificaties 
Diameter150,0 mm +0mm/-0.2mm 
OppervlakterichtlijnOff-Axis: 4°toward <11-20>±0.5° 
Primaire Vlakke Lengte47,5 mm ± 1,5 mm 
Secundaire Vlakke LengteGeen Secundaire Vlakte 
Primaire Vlakke Richtlijn<11-20>±1° 
Secundaire Vlakke RichtlijnN/A 
Orthogonal Misorientation±5.0° 
De oppervlakte eindigtC-gezicht: Optisch Pools, Si-Gezicht: CMP 
WafeltjerandBeveling 
Oppervlakteruwheid
(10μm×10μm)
Si-Gezicht Ra≤0.20 NM; C Gezicht Ra≤0.50 NM 
Dikte a350.0μm± 25,0 μm 
LTV (10mm×10mm) a≤2μm≤3μm 
(TTV) a≤6μm≤10μm 
(BOOG) a≤15μm≤25μm≤40μm 
(Afwijking) a≤25μm≤40μm≤60μm 
Oppervlaktespecificaties 
Spaanders/ParagrafenNiets Toegelaten Breedte ≥0.5mm en DiepteQty.2≤1.0 mm Breedte en Diepte 
Krast a
(Si-Gezicht, CS8520)
≤5 en Cumulatieve Length≤0.5×Wafer-Diameter≤5 en Cumulatieve Length≤1.5× Wafeltjediameter 
TUA (2mm*2mm)≥98%≥95%N/A 
BarstenToegelaten niets 
VerontreinigingToegelaten niets 
Randuitsluiting3mm 
     

6inch 150mm SIC Wafeltje 4 het Substraat Proefproductie van H-N Type sic en Nul Rang 06inch 150mm SIC Wafeltje 4 het Substraat Proefproductie van H-N Type sic en Nul Rang 16inch 150mm SIC Wafeltje 4 het Substraat Proefproductie van H-N Type sic en Nul Rang 2

 

CATALOGUS   GEMEENSCHAPPELIJKE GROOTTE   In ONZE INVENTARISlijst

   

4 H-N Type/Hoge Zuiverheids sic wafeltje/baren

2 duim4h n-Type sic wafeltje/baren
3 duim4h n-Type sic wafeltje
4 duim4h n-Type sic wafeltje/baren
6 duim4h n-Type sic wafeltje/baren

 
4H Semi-insulating/Hoge Zuiverheids sic wafeltje

2 duim4h Semi-insulating sic wafeltje
3 duim4h Semi-insulating sic wafeltje
4 duim4h Semi-insulating sic wafeltje
6 duim4h Semi-insulating sic wafeltje
 
 
6H-n-Type sic wafeltje
2 duim6h n-Type sic wafeltje/baar
 
Customziedgrootte voor 2-6inch
 
 

>Verpakking – Logistiek

Zorgen over elk detail van het pakket, het schoonmaken, antistatisch, en de schoktherapie.
Volgens de hoeveelheid en de vorm van het product, zullen wij een verschillend verpakkingsprocédé nemen! Bijna door enige wafeltjecassettes of 25pcs sorteren de cassettes in 100 schoonmakende ruimte.
 

Wilt u meer details over dit product weten
Ik ben geïnteresseerd 6inch 150mm SIC Wafeltje 4 het Substraat Proefproductie van H-N Type sic en Nul Rang kun je me meer details sturen zoals type, maat, hoeveelheid, materiaal, etc.
Bedankt!
Wachten op je antwoord.