| Merknaam: | ZMSH |
| Modelnummer: | GaN-op-Si-substraat |
| MOQ: | 5 |
| Betalingsvoorwaarden: | T/T |
GaN-op-Si(111) N/P Ttype substraat Epitaxy 4inch 6inch 8inch voor LED of Power-apparaat
GaN-op-Si (111)-substraten zijn essentieel in hoogwaardige elektronica en opto-elektronica vanwege hun grote bandafstand, hoge elektronenmobiliteit en thermische geleidbaarheid. Deze substraten maken gebruik van de kosteneffectiviteit en schaalbaarheid van silicium, waardoor wafers met een grote diameter mogelijk worden. Uitdagingen zoals roostermismatch en thermische uitzettingsverschillen tussen GaN en Si (111) moeten echter worden aangepakt om de dislocatiedichtheid en stress te verminderen. Geavanceerde epitaxiale groeitechnieken, zoals MOCVD en HVPE, worden gebruikt om de kristalkwaliteit te optimaliseren. GaN-op-Si (111)-substraten worden veel gebruikt in vermogenselektronica, RF-apparaten en LED-technologie en bieden een evenwicht tussen prestaties, kosten en compatibiliteit met bestaande halfgeleiderproductieprocessen.
![]()
Galliumnitride op silicium (GaN-op-Si) is een substraattechnologie die de eigenschappen van galliumnitride (GaN) combineert met de kosteneffectiviteit en schaalbaarheid van silicium (Si). GaN-op-Si-substraten zijn vanwege hun unieke eigenschappen vooral populair in vermogenselektronica, RF-apparaten en LED's. Hieronder staan enkele belangrijke eigenschappen en voordelen van GaN-op-Si-substraten:
GaN-op-Si-substraten bieden een kosteneffectieve oplossing voor het integreren van de hoogwaardige eigenschappen van GaN met de grootschalige produceerbaarheid van silicium, waardoor ze een kritische technologie worden in verschillende geavanceerde elektronische toepassingen.
| Parametercategorie | Parameter | Waarde/bereik | Opmerkingen |
|---|---|---|---|
| Materiaaleigenschappen | Bandafstand van GaN | 3,4 eV | Halfgeleider met brede bandafstand, geschikt voor toepassingen met hoge temperaturen, hoge spanning en hoge frequentie |
| Bandafstand van Si | 1,12 eV | Silicium als substraatmateriaal biedt een goede kosteneffectiviteit | |
| Thermische geleidbaarheid | 130-170 W/m·K | Thermische geleidbaarheid van GaN-laag; siliciumsubstraat is ongeveer 149 W/m·K | |
| Elektronenmobiliteit | 1000-2000 cm²/V·s | Elektronenmobiliteit in de GaN-laag hoger dan in silicium | |
| Diëlektrische constante | 9,5 (GaN), 11,9 (Si) | Diëlektrische constanten van GaN en Si | |
| Thermische uitzettingscoëfficiënt | 5,6 ppm/°C (GaN), 2,6 ppm/°C (Si) | Mismatch in thermische uitzettingscoëfficiënten van GaN en Si, wat mogelijk stress veroorzaakt | |
| Roosterconstante | 3,189 Å (GaN), 5,431 Å (Si) | Roosterconstante mismatch tussen GaN en Si, wat mogelijk tot dislocaties kan leiden | |
| Dislocatiedichtheid | 10⁸-10⁹ cm⁻² | Typische dislocatiedichtheid in de GaN-laag, afhankelijk van het epitaxiale groeiproces | |
| Mechanische hardheid | 9 Moh | Mechanische hardheid van GaN, voor slijtvastheid en duurzaamheid | |
| Wafelspecificaties | Diameter wafeltje | 2 inch, 4 inch, 6 inch, 8 inch | Gangbare maten voor GaN op Si-wafels |
| GaN-laagdikte | 1-10 µm | Afhankelijk van specifieke toepassingsbehoeften | |
| Substraatdikte | 500-725 µm | Typische dikte van het siliciumsubstraat voor mechanische sterkte | |
| Oppervlakteruwheid | < 1 nm RMS | Oppervlakteruwheid na het polijsten, waardoor epitaxiale groei van hoge kwaliteit wordt gegarandeerd | |
| Stap Hoogte | < 2 nm | Staphoogte in de GaN-laag, die de prestaties van het apparaat beïnvloedt | |
| Wafelboog | < 50 µm | Waferboog, die procescompatibiliteit beïnvloedt | |
| Elektrische eigenschappen | Elektronenconcentratie | 10¹⁶-10¹⁹ cm⁻³ | n-type of p-type doteringsconcentratie in de GaN-laag |
| Weerstand | 10⁻³-10⁻² Ω·cm | Typische soortelijke weerstand van de GaN-laag | |
| Uitsplitsing elektrisch veld | 3 MV/cm | Hoge doorslagveldsterkte in de GaN-laag, geschikt voor hoogspanningsapparaten | |
| Optische eigenschappen | Emissiegolflengte | 365-405 nm (UV/blauw) | Emissiegolflengte van GaN-materiaal, gebruikt in LED's en lasers |
| Absorptiecoëfficiënt | ~10⁴ cm⁻¹ | Absorptiecoëfficiënt van GaN in het zichtbare lichtbereik | |
| Thermische eigenschappen | Thermische geleidbaarheid | 130-170 W/m·K | Thermische geleidbaarheid van GaN-laag; siliciumsubstraat is ongeveer 149 W/m·K |
| Thermische uitzettingscoëfficiënt | 5,6 ppm/°C (GaN), 2,6 ppm/°C (Si) | Mismatch in thermische uitzettingscoëfficiënten van GaN en Si, wat mogelijk stress veroorzaakt | |
| Chemische eigenschappen | Chemische stabiliteit | Hoog | GaN heeft een goede corrosieweerstand, geschikt voor zware omstandigheden |
| Oppervlaktebehandeling | Stofvrij, vrij van vervuiling | Reinheidseis voor het GaN-wafeloppervlak | |
| Mechanische eigenschappen | Mechanische hardheid | 9 Moh | Mechanische hardheid van GaN, voor slijtvastheid en duurzaamheid |
| Young-modulus | 350 GPa (GaN), 130 GPa (Si) | Young's modulus van GaN en Si, die de mechanische eigenschappen van het apparaat beïnvloedt | |
| Productieparameters | Epitaxiale groeimethode | MOCVD, HVPE, MBE | Gemeenschappelijke epitaxiale groeimethoden voor GaN-lagen |
| Opbrengstpercentage | Afhankelijk van procescontrole en wafergrootte | De opbrengst wordt beïnvloed door factoren zoals dislocatiedichtheid en waferboog | |
| Groeitemperatuur | 1000-1200°C | Typische temperatuur voor epitaxiale groei van de GaN-laag | |
| Koelsnelheid | Gecontroleerde koeling | De koelsnelheid wordt gewoonlijk gecontroleerd om thermische spanning en wafelbuiging te voorkomen |
![]()
![]()
![]()
![]()
GaN-op-Si-substraten worden voornamelijk gebruikt in verschillende belangrijke toepassingen:
Vermogenselektronica: GaN-op-Si wordt veel gebruikt in vermogenstransistors en converters vanwege het hoge rendement, de hoge schakelsnelheden en het vermogen om bij hoge temperaturen te werken, waardoor het ideaal is voor voedingen, elektrische voertuigen en systemen voor hernieuwbare energie.
RF-apparaten: GaN-op-Si-substraten worden gebruikt in RF-versterkers en microgolftransistors, vooral in 5G-communicatie- en radarsystemen, waar hoge vermogens- en frequentieprestaties cruciaal zijn.
LED-technologie: GaN-on-Si wordt gebruikt bij de productie van LED's, vooral voor blauwe en witte LED's, en biedt kosteneffectieve en schaalbare productieoplossingen voor verlichting en displays.
Fotodetectoren en sensoren: GaN-op-Si wordt ook gebruikt in UV-fotodetectoren en diverse sensoren, en profiteert van de grote bandafstand van GaN en de hoge gevoeligheid voor UV-licht.
Deze toepassingen benadrukken de veelzijdigheid en het belang van GaN-op-Si-substraten in moderne elektronica en opto-elektronica.
![]()
![]()
![]()
![]()
Vraag: Waarom GaN boven si?
A:GaN op Si biedt een kosteneffectieve oplossing voor hoogwaardige elektronica, waarbij de voordelen van GaN's brede bandafstand, hoge elektronenmobiliteit en thermische geleidbaarheid worden gecombineerd met de schaalbaarheid en betaalbaarheid van siliciumsubstraten. GaN is ideaal voor toepassingen met hoge frequentie, hoge spanning en hoge temperaturen, waardoor het een superieure keuze is voor vermogenselektronica, RF-apparaten en LED's. Siliciumsubstraten maken grotere wafelformaten mogelijk, waardoor de productiekosten worden verlaagd en de integratie met bestaande halfgeleiderproductieprocessen wordt vergemakkelijkt. Hoewel er uitdagingen zijn zoals roostermismatch en verschillen in thermische uitzetting, helpen geavanceerde technieken deze problemen te verzachten, waardoor GaN op Si een aantrekkelijke optie wordt voor moderne elektronische en opto-elektronische toepassingen.
Vraag: Wat is GaN-op-Si?
A:GaN-op-Si verwijst naar galliumnitride (GaN)-lagen die op een silicium (Si)-substraat zijn gegroeid. GaN is een halfgeleider met een brede bandafstand die bekend staat om zijn hoge elektronenmobiliteit, thermische geleidbaarheid en het vermogen om bij hoge spanningen en temperaturen te werken. Wanneer het op silicium wordt gekweekt, combineert het de geavanceerde eigenschappen van GaN met de kosteneffectiviteit en schaalbaarheid van silicium. Dit maakt GaN-on-Si ideaal voor toepassingen in vermogenselektronica, RF-apparaten, LED's en andere hoogwaardige elektronische en opto-elektronische apparaten. De integratie met silicium maakt grotere wafergroottes en compatibiliteit met bestaande halfgeleiderproductieprocessen mogelijk, hoewel uitdagingen zoals roostermismatch moeten worden beheerd.