• 4Inch het Substraat van het siliciumcarbide, Semi sic Wafeltjes van de Hoge Zuiverheids de Eerste Proef Ultrarang 4H-
  • 4Inch het Substraat van het siliciumcarbide, Semi sic Wafeltjes van de Hoge Zuiverheids de Eerste Proef Ultrarang 4H-
  • 4Inch het Substraat van het siliciumcarbide, Semi sic Wafeltjes van de Hoge Zuiverheids de Eerste Proef Ultrarang 4H-
4Inch het Substraat van het siliciumcarbide, Semi sic Wafeltjes van de Hoge Zuiverheids de Eerste Proef Ultrarang 4H-

4Inch het Substraat van het siliciumcarbide, Semi sic Wafeltjes van de Hoge Zuiverheids de Eerste Proef Ultrarang 4H-

Productdetails:

Plaats van herkomst: China
Merknaam: ZMKJ
Modelnummer: 4 duim - hoge zuiverheid

Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:

Min. bestelaantal: 1pcs
Prijs: 600-1500usd/pcs by FOB
Verpakking Details: het enige wafeltjepakket in 100 sorteert schoonmakende ruimte
Levertijd: 1-6weeks
Betalingscondities: T / T, Western Union, MoneyGram
Levering vermogen: 1-50pcs/month
Beste prijs Contact

Gedetailleerde informatie

Materiaal: Sic enig kristal 4h-n type Rang: Model/onderzoek de rang van /Production
Thicnkss: 350um of 500um Suraface: CMP/MP
Toepassing: apparatenmaker het oppoetsen test Diameter: 100±0.3mm
Hoog licht:

het substraat van het siliciumcarbide

,

silicium op saffier wafeltjes

Productomschrijving

 Hoge zuiverheids 4h-n 4inch 6inch dia 150mm wafeltjes van het enige kristal (sic) substraten van het siliciumcarbide, sic de halfgeleidersubstraten van kristalbaren sic, van het het kristalwafeltje van het Siliciumcarbide de gesneden sic wafeltjes Customzied

Het Kristal ongeveer van het Siliciumcarbide (sic)  

Het siliciumcarbide (sic), ook gekend als carborundum, is een halfgeleider sic bevattend silicium en koolstof met chemische formule. Sic wordt gebruikt in de apparaten van de halfgeleiderelektronika die bij hoge temperaturen of hoge voltages werken, of both.SiC is ook één van de belangrijke LEIDENE componenten, is het een populair substraat voor het kweken van GaN-apparaten, en het dient ook als hitteverspreider in high-power LEDs.

EIGENSCHAPPEN van Enig Kristal 4H-SIC

  • Roosterparameters: a=3.073Å c=10.053Å
  • Het stapelen van Opeenvolging: ABCB
  • Mohshardheid: ≈9.2
  • Dichtheid: 3.21 g/cm3
  • Therm. Uitbreidingscoëfficiënt: 4-5×10-6/K
  • Brekingsindex: no= 2,61 ne= 2,66
  • Diëlektrische Constante: 9.6
  • Warmtegeleidingsvermogen: a~4.2 W/cm·K@298K
  • (N-Type, 0,02 ohm.cm) c~3.7 W/cm·K@298K
  • Warmtegeleidingsvermogen: a~4.9 W/cm·K@298K
  • (Semi-insulating) c~3.9 W/cm·K@298K
  • Band-Gap: 3.23 eV band-Gap: 3.02 eV
  • Opsplitsings Elektrogebied: 3-5×10 6V/m
  • De Snelheid van de verzadigingsafwijking: 2.0×105m/

4 het duim n-gesmeerde 4H-Wafeltje van het Siliciumcarbide sic

 Van het het Siliciumcarbide van de hoge zuiverheids4inch het Substraatspecificatie diameter (sic)

 

van het het Siliciumcarbide 4 duim van de Diameter Hoge Zuiverheid 4H het Substraatspecificaties

SUBSTRAATbezit

Productierang

Onderzoekrang

Proefrang

Diameter

100,0 mm +0.0/0.5mm

Oppervlakterichtlijn

{0001} ±0.2°

Primaire Vlakke Richtlijn

<11->20> ± 5,0 ̊

Secundaire Vlakke Richtlijn

90.0 ̊ CW van Primaire ± 5,0 ̊, siliciumgezicht - omhoog

Primaire Vlakke Lengte

32,5 mm ±2.0 mm

Secundaire Vlakke Lengte

18,0 mm ±2.0 mm

Wafeltjerand

Afkanting

Micropipedichtheid

cm2 van ≤5 micropipes/

≤10micropipes/-cm2

cm2 van ≤50 micropipes/

Polytypegebieden door licht met hoge intensiteit

Toegelaten niets

hetgebiedvan ≤10%

Weerstandsvermogen

≥1E5 Ω·cm

(gebied 75%) ≥1E5 Ω·cm

Dikte

350.0 μm ± 25,0 μm of 500,0 μm ± 25,0 μm

TTV

10μm

15μm

Boog (absolute waarde)

25μm

30μm

Afwijking

45 μm

De oppervlakte eindigt

Dubbel Zijpools, Si-Gezicht CMP (chemisch product die oppoetsen)

Oppervlakteruwheid

CMP-het Gezicht Ra≤0.5 NM van Si

N/A

Barsten door licht met hoge intensiteit

Toegelaten niets

Randspaanders/paragrafen door diffuse verlichting

Toegelaten niets

Qty.2<> de breedte en de diepte van 1,0 mm

Qty.2<> de breedte en de diepte van 1,0 mm

Totaal bruikbaar gebied

≥90%

≥80%

N/A

*The andere specificaties kunnen volgens de eisen van de klant worden aangepast

 

6 hoge duim - - Specificaties van zuiverheids Semi-insulating 4H-sic Substraten

Bezit

U (Ultra) Rang

P (Productie) Rang

R (Onderzoek) Rang

D (Proef) Rang

Diameter

150.0 mm±0.25 mm

Oppervlakterichtlijn

{0001} ± 0.2°

Primaire Vlakke Richtlijn

<11-20> ± 5,0 ̊

Secundaire vlakke Richtlijn

N/A

Primaire Vlakke Lengte

47,5 mm ±1.5 mm

Secundaire vlakke Lengte

Niets

Wafeltjerand

Afkanting

Micropipedichtheid

≤1 /cm2

≤5 /cm2

≤10 /cm2

≤50 /cm2

Polytypegebied door Licht Met hoge intensiteit

Niets

≤ 10%

Weerstandsvermogen

≥1E7 Ω·cm

(gebied 75%) ≥1E7 Ω·cm

Dikte

350.0 μm ± 25,0 μm of 500,0 μm ± 25,0 μm

TTV

10μm

Boog (Absolute Waarde)

40μm

Afwijking

60μm

De oppervlakte eindigt

C-gezicht: Optische opgepoetst, Si-Gezicht: CMP

Ruwheid (10μm ×10μm)

CMP-Si-Gezicht Ra<> 0,5 NM

N/A

Barst door Licht Met hoge intensiteit

Niets

Randspaanders/Paragrafen door Diffuse Verlichting

Niets

Qty≤2, de lengte en de breedte van elke<> 1mm

Efficiënt Gebied

≥90%

≥80%

N/A


* De tekortengrenzen zijn op volledige wafeltjeoppervlakte van toepassing behalve het gebied van de randuitsluiting. # Zouden de krassen op Si-slechts gezicht moeten worden gecontroleerd.

4Inch het Substraat van het siliciumcarbide, Semi sic Wafeltjes van de Hoge Zuiverheids de Eerste Proef Ultrarang 4H- 14Inch het Substraat van het siliciumcarbide, Semi sic Wafeltjes van de Hoge Zuiverheids de Eerste Proef Ultrarang 4H- 24Inch het Substraat van het siliciumcarbide, Semi sic Wafeltjes van de Hoge Zuiverheids de Eerste Proef Ultrarang 4H- 3

 

Ongeveer sic Substratentoepassingen
 
4Inch het Substraat van het siliciumcarbide, Semi sic Wafeltjes van de Hoge Zuiverheids de Eerste Proef Ultrarang 4H- 4
 
CATALOGUS GEMEENSCHAPPELIJKE GROOTTE                             
 

 

4h-n Type/Hoge Zuiverheids sic wafeltje/baren
2 duim4h n-Type sic wafeltje/baren
3 duim4h n-Type sic wafeltje
4 duim4h n-Type sic wafeltje/baren
6 duim4h n-Type sic wafeltje/baren

 

4H Semi-insulating/Hoge Zuiverheids sic wafeltje

2 duim4h Semi-insulating sic wafeltje
3 duim4h Semi-insulating sic wafeltje
4 duim4h Semi-insulating sic wafeltje
6 duim4h Semi-insulating sic wafeltje
 
 
6H-n-Type sic wafeltje
2 duim6h n-Type sic wafeltje/baar

 
 Customziedgrootte voor 2-6inch 
 

 

Verkoop & Klantenservice               

Materialen het Kopen

De materialen die afdeling kopen is verantwoordelijk om alle grondstoffen te verzamelen nodig om uw product te produceren. Volledige traceability van alle producten en materialen, met inbegrip van chemische en fysieke analyse is altijd beschikbaar.

Kwaliteit

Tijdens en na de vervaardiging of het machinaal bewerken van uw producten, is de kwaliteitscontroleafdeling betrokken bij het ervoor zorgen dat alle materialen en tolerantie ontmoeten of uw specificatie overschrijden.

 

De dienst

Wij pride in het hebben van het personeel van de verkooptechniek met meer dan 5 jaar ervaringen in de halfgeleiderindustrie. Zij worden opgeleid om technische vragen te beantwoorden evenals geschikte citaten te verstrekken voor uw behoeften.

wij zijn aan uw kant door wanneer wanneer u probleem, hebt en het in 10hours oplost.

 

Wilt u meer details over dit product weten
Ik ben geïnteresseerd 4Inch het Substraat van het siliciumcarbide, Semi sic Wafeltjes van de Hoge Zuiverheids de Eerste Proef Ultrarang 4H- kun je me meer details sturen zoals type, maat, hoeveelheid, materiaal, etc.
Bedankt!
Wachten op je antwoord.